一，概述：

由于LED燈負載使用日益廣泛，對開關抗沖擊要求越來越高。目前普遍使用自鎮(zhèn)流燈負載來測試開關的抗沖擊特性。由于自鎮(zhèn)流燈負載柜測試周期較長（2萬循環(huán)次數），測試結果等待時間較長；另外采用交流源測試開關導通角比較隨機，導致每個被測開關實際承受的沖擊結果有一定差異（當然從概率論角度講應該基本一致）。

為了解決導通角差異問題我們采用直流電源來測試，同時確保每次測試的 Ipeak ，I2t和沖擊波形三個要素的一致性，我們開發(fā)出這臺設備輔助測試。

下表為標準要求的Ipeak 和 I2t參數：

（表格可左右滑動查看）

由此可見標準要求的沖擊參數最 大值為：Ipeak = 192A;  I2t = 13。沖擊波形為：

我們設備目前可以提供的最 大沖擊參數為：Ipeak >600A;  I2t >70（可以定制更高沖擊參數）。沖擊波形為：

利用這種沖擊一致性的設備可以對開關進行快速比對測試，設定一個合格門檻。同時也可以快速發(fā)現開關中存在的結構問題（比如支撐片傾斜，觸點不對中等）。

   觸點偏位

二，操作方法

1，按照下圖所示接好測試開關，連接好采樣示波器，測試電源的接線端子無需接線。

2，打開主機電源，啟動測試電源，調節(jié)測試所需電壓（一般調到250VDC），按測試需求選擇I2t電容（每檔電容并聯(lián)）和Ipeak，按下啟/停按鈕，對電容進行充電，等待測試電壓表達到測試電源設置的電壓時表示電容充滿電。然后閉合被測開關進行沖擊測試，直到測試電壓顯示為零則完成一次測試。然后斷開被測試開關，電容再次進行充電，閉合測試開關進行沖擊測試，如此往復。

注：  1）更換被測開關之前，請先按下啟/停按鈕，確認測試電壓表顯示為零時再進行被測開關更換，以防高壓電擊。2）請在測試電壓表顯示為零時再進行I2t檔位選擇操作3

3，示波器是用來測量開關接通瞬間的沖擊電流波形（由此可以測得I2t和Ipeak）。內置采樣電阻比值為100A/1V。下圖為用示波器采樣的一個沖擊電流波形圖供參考。